FE-2100M 硅鋼材料自動測量裝置適用標準 |
● GB/T3655-2008《用愛潑斯坦方圈測量電工鋼片(帶)磁性能的方法》
● JJG405-1986《硅鋼片(帶)標準樣品》
● GB/T13789-2008《用單片測試儀測量電工鋼(帶)磁性能的方法》
● IEC 60404-2《用愛潑斯坦方圈測量電工鋼片(帶)磁性能的方法》
● IEC 60404-3《用單片測試儀測量電工鋼片(帶)磁性能的方法》
● IEC 60404-6《磁性材料——第6部分:軟磁金屬材料和粉末冶金材料20Hz至200kHz頻率范圍磁性能的環形試樣測量方法》
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FE-2100M硅鋼材料自動測量裝置硬件特點 |
● 采用32位ARM嵌入式高速處理器,具有強大的數據處理能力;
● 同步采樣技術,確保了采樣的準確性和重復性;
● 可獨立進行單點或多點測試(無需電腦),并采用320×240大屏幕液晶顯示,可顯示各種波形、曲線及測量結果,適合工廠企業現場測試的需要;
● 單點平均測試時間約3秒,40-1000Hz可直接采用在面板上操作測試完成;
● 能進行*大基波幅度10%諧波*大次數64的諧波測試和分析功能。
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FE-2100M 硅鋼材料自動測量裝置軟件特點 | |||||||||||||||||||||||||||||
● 可直接單機在線測量,液晶屏顯示所有參數和曲線;
● 與微機連接可進行自動控制,并對測試數據進行保存;
● 對重要參數提供分選功能(Br、Bm、Hc、Hm、Ps、ua);
● 準確測量:頻率f 、初級電流峰值、次級電壓峰值、有功功率和視在功率;
● 準確測量:磁感強度Bm、勵磁磁場強度Hm、幅值磁導率ua 、損耗角δ和比總損耗Ps;
● 準確換算:彈性磁導率u’、粘性磁導率u”、電感磁導率uL、電阻磁導率uR、Q值和電感常數AL;
● 提供測試波形I-V-B、B-H磁滯回線(簇)、交流u&B-H磁導率曲線和磁化曲線和Ps-B比總損耗曲線報告。
● 有鎖定B、鎖定H和鎖定頻率f 測試功能;
● 有疊加諧波測試分析功能,包含選擇諧波次數;
● 諧波幅度等人為干預進行疊加,并進行諧波損耗的準確測量;
● 測試后自動完成數據計算,有自動校正量程系數功能。
● 文件系統采用數據庫格式,可直接打印或輸出測試結果到 Excel表格中。
● 文件管理功能強大,包含自動保存數據,刪除數據,**全部數據等功能。
● 數據文件中包含完整的采樣數據、樣品參數和儀器參數,可輸入其它軟件。
FE-2100M硅鋼材料自動測量裝置主要技術參數
測量原理
軟件界面
1、重復性實驗
1-1、方圈樣片重復性實驗測試I/U/B波形
重復性分析:頻率發 f鎖定無偏差,Bm鎖定(鎖定值為1.500T)偏差:-0.2%
1-2、方圈樣片重復性實驗測試BH波形(單一波形)
1-3、八次測試波形疊加(高可靠的重復性保證BH曲線幾乎完全重合)
2、自動連續測試0. 1T~1.8T,獲得磁化曲線和損耗曲線,并開通測試合格判斷功能。
2-1、單條方圈樣片實驗測試I/U/B波形(單點鎖定時間不超過5秒,高于技術要求中30秒鎖定一個點的要求,得益于軟件的快速逼近設計方法,避免了硅鋼長期測試的發熱,同時測試技術連續對硅鋼測量過程中,添加退磁環節,確保測試的重復性和在線性)
2-2、單一磁滯回線(點擊單一數據,點擊磁滯回線)
2-3、測試0.1T~1.5T方圈樣片的BH曲線簇圖(點擊組簇,同牌號和頻率判斷曲線直接組簇,操作異常方便)。
2-4、方圈樣片50Hz條件下的BH磁化曲線和磁導率曲線(在組簇的情況下,點擊磁化曲線,直接生成磁導率曲線和磁化曲線,測試點越多,曲線越平滑,*多可設定256點)
2-5、方圈樣片50Hz條件下的損耗曲線(在組簇的情況下點擊損耗曲線,直接生成損耗曲線,為設計變壓器和電機工作點提供依據)
2-6、其他功能介紹
2-6-1、在線分選(可設定主要參數的分選功能,合格亮綠燈通過,不合格亮紅燈,沒選擇或沒填數據不變色),方便用戶直接進行分選。
2-6-2、可衍生其他交流磁特性參數,方便技術工程人員,具體有u’、u”、uL、uR、AL、Q 、tgδ。
2-6-3、國際制單位和Gs值單位任意換算
華鳴儀器通過與寶鋼、武鋼、上海大學成立“高品質電機電工鋼聯合實驗室” ,以及美國通用傳遞的鐵芯進行測試,FE-2100M與其進行性能比較并不遜色,偏差較小,基本上達到了國內外同行先進水平。
1.鐵芯飽和測試實驗(Brockhaus測試數據由武鋼技術中心提供,測試樣品環由美國通用公司提供)
1-1、測試樣品B35AHV1700 幾何參數:有效磁路長度Le:267.6mm,有效截面積Ae:63.595mm,有效體積:18.290cm3,有效質量質量Me:136g。
1-2、測試數據比對:整體偏差優于:2.5%。
2.鎖定Bm測試與鎖定Hm測試比較:兩種不同鎖定方式下,磁化曲線、比總損耗曲線。取一組接近飽和條件下測試的數據很能說明新款FE-2100M的測試能力,完全突破了以往設備測試Bm條件下不考慮Pc測試的準確度的瓶頸,這里面涉及公司核心技術,不便公開。僅將測試結果進行公開。
圓環樣品BHV1700,分別鎖定Bm(0.1~1.6T)與鎖定Hm(30~11kA/m)測試損耗進行比較。
2-1、鎖定Hm=11kA/m測試(為保證真實性,界面直接抓取):
2-2、鎖定Bm=1.6T測試(為保證真實性,界面直接抓取):
2-3、兩種不同鎖定方式進行Bm-Pc曲線比較(損耗曲線基本上重合)
2-4、兩種不同鎖定方式進行Bm-Hm曲線比較(磁化曲線基本上重合)
2-5、疊加諧波測試界面直接抓取(新版),用戶配置諧波電源,可進行諧波條件下材料損耗的測量,便于以后標準的升級。
2-6、諧波條件下測試波形分析
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